Sharp : PID-Resistenz von Solar-Modulen bestätigt
Je ein Modul 13 namhafter Hersteller wurde vom Fraunhofer CSP in einem unabhängigen Verfahren bei 50°C und einer relativen Luftfeuchte von 50 Prozent auf potentialinduzierte Degradation (PID) getestet. PID kann bei negativen Spannungen gegenüber der Erde auftreten und wird durch hohe Systemspannungen, Temperaturen und Luftfeuchte beschleunigt. Ledglich vier der 13 geprüften Module bestanden den Test und wiesen keine Anzeichen von Degradation auf. Die übrigen Module anderer Hersteller verzeichneten teilweise starke Leistungseinbrüche von bis zu 98 Prozent im Vergleich zur Ausgangsleistung. Sharp überzeugt in unabhängigem Testverfahren des Fraunhofer CSP Bild: Sharp Das Ergebnis bestätigt, dass Sharp durch beständige Innovationen und jahrzehntelange Erfahrung zu den führenden Herstellern von Solar-Modulen gehört. Strikte Kontrollen sichern zusätzlich den gleichbleibend hohen Qualitätsstandard der Sharp PV-Module. „Das ist ein sehr erfreuliches Ergebnis für uns und zeigt deutlich, dass es große Unterschiede zwischen den Modulherstellern gibt. Zudem bestätigt es die Zuverlässigkeit unserer eigenen PIDQualitätsprüfungen, die nach den strengen NREL Standards bei jedem neuen Produkt durchgeführt werden“, so Peter Thiele, Executive Vice President Sharp Energy Solution Europe.
Ausführliche Informationen zum PID-Test unter www.csp.fraunhofer.de/aktuelles/details/id/51/.